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常規電工電子可靠性檢測專案及檢測標準有哪些·▩✘·•?
作者:tiemuzhen
日期: 2022-12-23
一般來說為了評價分析電子產品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗·│↟,是為預測從產品出廠到其使用壽命結束期間的質量情況·│↟,選定與市場環境相似度較高的環境應力後·│↟,設定環境應力程度與施加的時間·│↟,主要目的是儘可能在短時間內·│↟,正確評估產品可靠性·☁╃☁✘。
一◕↟·、常規電工電子可靠性檢測專案及檢測標準有哪些·▩✘·•?
1.低溫試驗 電工電子產品環境試驗 第2部分◕☁:試驗方法 試驗A◕☁:低溫GB/T2423.1-2008·│↟,IEC60068-2-1:2007
2.高溫試驗 電工電子產品環境試驗 第2部分◕☁:試驗方法 試驗B◕☁:高溫GB/T2423.2-2008 ·│↟,IEC60068-2-2:2007
3.恆定溼熱試驗 環境試驗 第2部分◕☁:試驗方法 試驗Cy: 恆定溼熱主要用於元件的加速試驗 GB/T2423.50-2012·│↟,IEC60068-2-67:1995 電工電子產品環境試驗 第2部分◕☁: 試驗方法 試驗Cab◕☁:恆定溼熱試驗 GB/T 2423.3-2006·│↟,IEC 60068-2-78◕☁:2001
4.
交變溼熱試驗
電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Db◕☁:交變溼熱(12h+12h迴圈) GB/T2423.4-2008·│↟,IEC 60068-2-30:2005
5.振動試驗 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fi: 振動 混合模式 GB/T 2423.58-2008·│↟,IEC 60068-2-80:2005 電工電子產品環境試驗 第2部分◕☁:試驗方法 試驗Fh◕☁:寬頻隨機振動(數字控制)和導則 GB/T 2423.56-2006·│↟,IEC 60068-2-64:1993 電工電子產品環境試驗 第2部分◕☁:試驗方法 試驗Fc和導則◕☁:振動(正弦) GB/T 2423.10-2008·│↟,IEC 60068-2-6:1995
6.溫度變化 環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012·│↟,IEC 60068-2-14:2009
7.溫度/溼度組合迴圈 環境試驗 第2部分◕☁:試驗方法 試驗Z/AD◕☁:溫度/溼度組合迴圈試驗 GB/T 2423.34-2012·│↟,IEC 60068-2-38:2009
8.跌落 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995·│↟,IEC 60068-2-32:1990
9.機械衝擊 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導則:衝擊 GB/T 2423.5-1995·│↟,IEC 60068-2-27:1987
10.碰撞 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ·│↟,IEC 60068-2-29:1987
11.傾跌與翻倒 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導則:傾跌與翻倒 (主要用於裝置型樣品) GB/T 2423.7-1995·│↟,IEC 60068-2-31:1982
12.砂塵 電工電子產品環境試驗 第2部分◕☁:試驗方法 試驗L◕☁:沙塵試驗 GB/T 2423.37-2006·│↟,IEC 60068-2-68:1994
13.鹽霧 人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗 GB/T 10125-2012·│↟,ISO 9227:2006 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ka◕☁:鹽霧 GB/T 2423.17-2008·│↟,IEC60068-2-11:1981
14.溫度衝擊 環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012·│↟,IEC 60068-2-14:2009
15.外殼防護 外殼防護等級(IP程式碼) GB 4208-2008·│↟,IEC 60529:2001 電工電子產品環境試驗 第2部分◕☁:試驗方法 試驗R◕☁:水試驗方法和導則 GB/T 2423.38-2008·│↟,IEC 60068-2-18:2000
16.
低溫/振動(正弦)綜合試驗
電工電子產品環境試驗 第2部分◕☁:試驗方法 試驗Z/AFc◕☁:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005·│↟,IEC 60068-2-50:1983
17.高溫/振動(正弦)綜合試驗
電工電子產品環境試驗 第2部分◕☁:試驗方法 試驗Z/BFc◕☁:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005·│↟,IEC 60068-2-51:1983
18.溫度(低溫◕↟·、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合 電工電子產品環境試驗 第2部分◕☁:試驗方法 試驗Z/ABMFh◕☁:溫度(低溫◕↟·、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合 GB/T 2423.59-2008
19.(低溫◕↟·、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合GB/T 2423.102-2008
20.可靠性試驗 裝置可靠性試驗 恆定失效率假設下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案 GB/T 5080.7-1986·│↟,IEC 60605-7:1978 裝置可靠性試驗 恆定失效率假設的有效性檢驗 GB/T 5080.6-1996 ·│↟,IEC 60605-6:1989 裝置可靠性試驗成功率的驗證試驗方案 GB/T 5080.5-1985 ·│↟,IEC 60605-5:1982 裝置可靠性試驗 可靠性測定試驗的點估計和區間估計方法 (指數分佈) GB/T 5080.4-1985·│↟,IEC 60605-4:1978 可靠性試驗 第2部分◕☁:試驗週期設計 GB/T 5080.2-2012·│↟,IEC 60605-2:1994 可靠性試驗 第1部分◕☁:試驗條件和統計檢驗原理 GB/T 5080.1-2012·│↟,IEC 60300-3-5:2001
武漢金測實驗室完全按照ISO/IEC17025◕☁:2005《檢測和校準實驗室能力的通用要求》(CNAS-CL01)《檢測和校準實驗室能力認可準則》)的要求開展測試服務·│↟,秉承◕☁:管理科學·│↟,公平公正;操作規範·│↟,資料準確;安全保密·│↟,廉潔自律的質量方針和第三方公正實驗室的職業道德·│↟,熱誠為國內客戶提供標準◕↟·、檢測◕↟·、認證工作的全方位服務·☁╃☁✘。
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